微区分析
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球差校正透射电子显微镜

联系人：刘惠普

联系邮箱：hpliu@fudan.edu.cn

放置地点：江湾校区化学楼A0005室

基础信息

  • 设备型号：ARM200F

  • 设备厂家：日本电子（JEOL）

  • 主要规格及技术指标：加速电压80/200 kV，放大倍率20k-50M倍。

  • 主要功能及特色：TEM、SAED、STEM（HAADF、ABF）、EDS能谱元素分析。冷场发射电子枪光源能量发散度小，相干性好。ASCOR球差校正器可以提供小于0.07 nm的束斑，使得分析速度和质量飞跃性提高。STEM HAADF分辨率： 0.0784 nm（200 kV），0.111 nm（80 kV）。

  • 收费标准：详见材料科学系共享仪器平台仪器收费标准（2021年9月起实施）。