性能分析
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多功能薄膜光学分析仪

联系人：刘园园

联系邮箱：liuyy@fudan.edu.cn

放置地点：江湾校区先进材料楼237室

基础信息

  • 设备型号：Analyzer 1280

  • 设备厂家：n&k Technology

  • 主要规格及技术指标：可测量波长范围190nm~1000nm；基板大小：2、3、4、6寸大小或破片，不透光与透光基板皆可。

  • 主要功能及特色：可测量介电材料、半导体、透明导体、高分子材料等。反射光谱与透射光谱测量，获得薄膜厚度、消光因子、折射率。

  • 收费标准：详见材料科学系共享仪器平台仪器收费标准（2021年9月起实施）。