性能分析
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椭偏仪

联系人：刘园园

联系邮箱：liuyy@fudan.edu.cn

放置地点：江湾校区先进材料楼237室

基础信息

  • 设备型号：V-VASE型

  • 设备厂家：JA Woollam

  • 主要规格及技术指标：光谱范围：190-1700nm。

  • 主要功能及特色：具有自动可变角，单色仪分光。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析（膜厚，消光因子，折射率等）。

  • 收费标准：详见材料科学系共享仪器平台仪器收费标准（2021年9月起实施）。