微区分析
微区分析
首页  科学研究  共享仪器平台  仪器列表  微区分析

场发射扫描电子显微镜

联系人：刘惠普

联系邮箱：hpliu@fudan.edu.cn

放置地点：江湾校区化学楼A0005室

基础信息

  • 设备型号：JSM-6701F

  • 设备厂家：日本电子（JEOL）

  • 主要规格及技术指标：加速电压：0.5kV~30kV，二次电子图像分辨率：1.0 nm (15 kV)/2.2 nm (1 kV)，放大倍数：×25～650000。

  • 主要功能及特色：配有JFC-1600喷金仪。可测试各种材料的二次电子像、背散射像、能谱。可对块体、粉末等各种形态固体材料的表面形貌和表面结构进行观察和分析；分析对固体材料的元素组成和分布。

  • 收费标准：详见材料科学系共享仪器平台仪器收费标准（2021年9月起实施）。