设备名称

产商

型号

扫描超声波显微镜（ SAM ）

KRAMER( 德国 )

拉伸实验机

深圳三思公司

CMT6104

体视显微镜

Motic China

SMZ-168

金相显微镜

OLYMPUS

BX 51M

Single Platen Grinding & Polishing Machine

ALLIED HIGH TECH

P/N 10-2000

Precision Low-Speed Saw

ALLIED HIGH TECH

Tech Cut 4

台式 SMT 再流焊机

北京航天华泰电子技术研究所

HT996

行星式球磨机

南京大学仪器厂

QMISP04

高低温温度快速变化试验箱

上海增达环境试验设备

WGDF6-QZ

恒定湿热试验箱

上海增达环境试验设备有限公司

SHR － 0.1

Vacuum Printing Encapsulation System

SANYU

LS-25GX

椭偏仪

北京照相机械技术研究所

深能级瞬态谱仪

南京大学仪器厂

管式电阻炉

上海实验电炉厂

SK 2-4-12

高加速度冲击试验台

苏州苏南振动试验仪器

HAS-5

数字微欧姆计

上海安标电子

PC9D

数字存储示波器

上海新建仪器

XJ 4453A

智能半导体管特性图示仪

上海新建仪器

XJ4830

低纹波恒压流数显型电源

深圳安泰信电子

TPR-3005-2D

Differential Scanning Calorimeter

Du Pont Instruments

910

Thermogravimetric Analyzer

Du Pont Instruments

951

Differential Scanning Calorimeter

TA Instruments

DSC 10

Polarizing Optical Microscope

Olympus

BH-2

高效液相色谱仪 HPLC

Agilent

1100 型

扫描隧道显微镜

爱建

AJ － IA

UV － Vis 光谱

CVI special products

SM240

直流数字电流表

——

PA 15A 型（ 10 -9 A ）

Keithley 2400 信号源表

Keithley

2400

函数发生器

Agilent

33120A

示波器

Agilent

54622A

真空干燥箱

——

DZF － 6021 型

分析天平

——

（ 0.1mg ～ 200mg ）

直流磁控溅射镀膜机

北京东方盖德

台阶仪 Surfcorder

Eosoka Laboratory

ET3000

半导体电导率测试仪

上海电动工具研究所

BD － 90

分光光度计

UV － 2450

扫描隧道探针显微镜

上海爱建

AJ － III 型

渠道火花烧蚀镀膜机

Organic Spintronics , Italy

显微镜

OLYMPUS

BX60

表面接触角和表面自由能测试分析仪

Dataphysics （德国）

OCA15

超细颗粒粒度分析仪

Beckman Coulter （美国）

N4Plus

凝胶渗透色谱仪

Waters （美国）

Q-UV 耐老化试验箱

Q-PANEL （美国）

电子拉力机

上海化工设备

DXLL1000-20000

傅里叶变换红外光谱（ FTIR, ATR-FTIR ）

Nicolet （美国）

Magna-IR 550II

X 射线光电子能谱仪（ XPS ）

VG （英国）

XR5

耐盐雾试验箱

上海实验仪器厂

调温调湿箱

上海实验仪器厂

各种硬度计

各种粘度计

半自动配色仪

澳大利亚

100L 中试反应釜及其涂料中试设备

干燥时间测定仪

反射率仪

涂层测厚仪

耐洗刷测定仪

流挂仪

腻子稠度计

腻子柔韧性测定仪

二次离子质谱（ SIMS ）

CAMECA (France)

IMS -6F

飞行时间质谱（ TOF － SIMS ）

CE&A( USA )

TOF-2000MIP

透射电镜（ TEM ）

PHILIPS

CM200FEG

High Voltage TEM

PHILIPS

EM-430

扫描电镜（ SEM ）

CAMBRIDGE ( U.K. )

S-360

场发射电镜

PHILIPS

XL30 FEG

聚焦离子束（ FIB ）

FEI (U.S.A)

场发射扫描俄歇探针

VG ( U.K. )

Mierolab 310

X 光电子能谱（ XPS ）

VG ( U.K. )

XR5

能量损失 X 光微区分析系统

ECAX (U.S.A)

DX-4I

能量损失 X 光微区分析系统

LINK (U.K)

QX2000

表面剖析仪

Tencor ( U.S.A. )

Alpha-Step 200

Ion Choromatography

Dionex ( U.S.A. )

DIONES-300

原子吸收光谱

UNICAM ( U.K. )

SOLAR-939

Inductively Coupled Plasma Mass Sepctrometer

VG ( U.K. )

PQ3

High Performance Liquid Chromatography

Waters ( U.S.A. )

Waters 600E

傅立叶红外光谱（ FTIR ）

Nicolet ( U.S.A. )

Magna-IR 550 II

Photon Emission Microscope

HAMAMATSU ( Japan )

PHEMOS-1000(IR-OBIRCH)

Scanning Ultrasonic Microscope

HITACHI ( Japan )

FINSAT

扫描超声显微镜

KSI ( Germany )

Optical Microscope

LEIKA( Germany )

1NM100

卢瑟福背散射谱

原子力显微镜（ AFM ）

X 荧光分析